點(diǎn)擊次數(shù)：1140 更新時(shí)間：2017-05-22
X射線不僅可以出色地檢測(cè)產(chǎn)品中的金屬，玻璃，石頭，骨頭以及高密度塑料等物理污染物，x射線質(zhì)量檢測(cè)工具還可同時(shí)進(jìn)行多項(xiàng)在線質(zhì)量檢測(cè)，如計(jì)件、識(shí)別缺失或破損、監(jiān)測(cè)罐裝量、檢測(cè)密封完整性等。x射線質(zhì)量檢測(cè)工具由正方形形狀的像素點(diǎn)組成。以0.8mm像素尺寸感應(yīng)器為例，每當(dāng)產(chǎn)品通過系統(tǒng)(由0.8mm像素尺寸的方形像素點(diǎn)組成)0.8mm長(zhǎng)度時(shí)就生成一個(gè)線性圖像將這些0.8mm寬的線條逐步累積起來就形成了X射線圖像。
x射線質(zhì)量檢測(cè)工具成像系統(tǒng)的分辨率(清晰度)決定于X射線源焦斑的大小、X光路的幾何放大率和探測(cè)器像素大小。微焦點(diǎn)X光管的焦斑可小到幾個(gè)微米。X光路的幾何放大率可達(dá)到10~2500倍，探測(cè)器像素可小到幾十微米。
成像系統(tǒng)的對(duì)比度決定于圖像探測(cè)器的探測(cè)效率、電子學(xué)系統(tǒng)的信噪比和合適的X射線能量。目前一般的X射線成像技術(shù)可以獲得好于1%的對(duì)比度。
x射線質(zhì)量檢測(cè)工具成像系統(tǒng)的分辨率(清晰度)決定于X射線源焦斑的大小、X光路的幾何放大率和探測(cè)器像素大小。微焦點(diǎn)X光管的焦斑可小到幾個(gè)微米。X光路的幾何放大率可達(dá)到10~2500倍，探測(cè)器像素可小到幾十微米。
成像系統(tǒng)的對(duì)比度決定于圖像探測(cè)器的探測(cè)效率、電子學(xué)系統(tǒng)的信噪比和合適的X射線能量。目前一般的X射線成像技術(shù)可以獲得好于1%的對(duì)比度。
